基于安捷伦CXA信号分析仪的EMI预兼容测试方案

2012年07月10日 14:55 来源：eet-china 作者：秩名我要评论(0)

　　概述

　　越来越多的电子制造公司认识到频繁地进行电磁兼容（EMC）/ 电磁干扰（EMI ）检测，整改，已经成为了降低产品研发成本，缩短产品开发周期的主要瓶颈。而在从研发，样品生产到正式生产的整个过程中进行EMI 预兼容测试就是突破这一瓶颈的最常规的手段。

　　尽管进行EMI 预兼容测试已经成为了电子行业的共识，但是大多数公司的尝试都遭遇了成本的阻碍。只有很少的大型电子企业有足够的经费建造，购买电波暗室，标准接收机以及相应外设，从而建设一套和EMC 标准实验室类似的测试系统。而大量中小型的企业和电子产品设计室一直在寻找一套低成本而高效的EMI 预兼容测试方案。

　　典型的EMI测试系统

　　大多数的电子产品都需要通过传导泄露和辐射泄露两类EMI测试。其本质都是使用频谱分析仪或者接收机测量由测量附件拾取到的干扰信号。

图一传导泄露测试

　　图一是典型的传导测试仪器连接配置

　　拾取电源线上传播干扰信号的最常用设备是线性阻抗匹配网络（LISN）。而瞬态限幅器可以有效的避免频谱分析仪或者接收机被LISN 产生的大功率瞬态信号损坏。而传导测试的被测件，附件和频谱仪完全是通过电缆连接，所以非常容易实现且不易受到干扰。我们用类似的方法进行预兼容测试，得出的结果往往可以和EMC 认证机构得出的测试结果很好吻合。

图二辐射泄露测试