变频存储的实现 - 瞬变光辐射信号探测的数据采集系统

　　为了减小信号处理的数据量，根据目标信号的特征，可采用变速率存储技术。尽管所探测的瞬变光辐射信号的最高频率一般在10 kHz左右，根据奈奎斯特采样定理，采样频率只要在20 kHz以上即可以无失真的还原信号，但是所要探测的光辐射信号中有一些关键峰值到达时刻最小不到半个毫秒，高速率采样有助于提高计算峰值到达时刻的精度，同时有利于提高A/D的信噪比。A/D采集系统初始的采样频率为200 kHz，每隔32个采样点，存储频率下降50%。

　　在电路中采用的方法是：A/D转换器按照固定的转换频率进行模拟量到数字量的转换，通过FPGA控制数据的变速率存储。其具体的VHDL设计步骤如下：

　　(1)实现采样时钟的逐次分频;

　　(2)调整逐次分频的占空比，以防止数据存储错误;

　　(3)设计使能信号，实现对每组只存储32点。

　　由于系统对目标信号采集时间长度是固定的，故变频存储的变频次数是有限的。初始存储时间间隔△t=0.01 ms，其变频次数不超过16次。故本方案中设计一个16位计数器counter16，对200 kHz采样时钟计数。计数器counter16的第0～15位的输出，即可以实现对200 kHz采样时钟的逐次二分频。但是由于从counter16(1)开始，每个低位输出时对应着K个有效数据，但存储的数据只会是最后一个有效数据，这样可能会造成数据存储出错，故需要对counter16(1)～counter16(15)进行占空比调整。将占空比从1：1调整为1：(2K-1)，其中K为整数(K=2～32 768)。调整占空比VHDL的思路为设计一个16位的counter16_v计数器，将counter16的相应位进行相与后赋给相应的counter16_v。

　　由于每组只存储32个数据，因此对应每组还要设计相应的16 b使能信号dcnt。方法是对clk_200K计数，存储开始后，开始64个clk_200K时钟将第一组数据使能信号dcnt(o)置为高电平，然后保持低;接着对128个clk_200K时钟将第二组数据使能dcnt(1)置为高电平，然后保持低。按照这种方法可将16个使能信号从dcnt(0)～dent(15)设置好。变频存储的使能频率为ad_clk。

　　这里给出基于Altera公司的FPGA Flex10K系列的EPF10K20TC144-3。图5为变频存储时，采样频率clk_200K与其他信号关系及其时序波形。系统先以默认的采样频率进行采样，当识别检测模块判定信号发生时(siggen变为高电平)，开始输出经过变频的采样数据，每隔32点，存储频率下降50%，直到系统所要求的数据点数为止，采集到波形如图6所示。当采样的数据个数符合系统的要求后siggen信号变为低电平，ens屏蔽采样的数据。等到FIFO清空后，ens重新变为高电平，恢复默认的采样时钟，重新开始采样、识别和存储工作。

　　4 结论

　　根据瞬态光辐射探测系统的整体要求，本文提出了基于目标信号特性基础上的变频采集方案，以FPGA为核心控制和处理单元，采用模块化设计思想，编程实现对数据采样和存储的控制。按照工程要求，完成了编程、仿真和外围硬件电路的搭建，实现了对瞬变光辐射信号的数据采集。该方案有效降低了数据采集系统对于存储容量的要求，同时也减小了对数据处理量，对于其他数据存储容量有要求的数据采样系统具有很好的借鉴作用。