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广立微Semitronix

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广立微AI/ML技术迎来爆发式成长

半导体制造有着产业链长,生产步骤多,生产设备多,每一颗合格芯片的生产都是成百上千台设备统一协作的结果....
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广立微INF-AI助力格科微产品良率提升

AI技术在半导体设计、制造和优化等方面的应用日益深入。在设计阶段,AI可以通过机器学习算法,提高芯片....
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广立微参与起草的《技术文档的用户体验评估规范》正式发布

2024 年 4 月 11 日,由北大、蚂蚁和广立微等多家单位领衔起草的全球第一份专注于技术文档用户....
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广立微DE-YMS助力灵动微电子挖掘MCU车规级芯片良率数据价值

MCU芯片是一种集成了中央处理器(CPU)、存储器、输入输出接口和时钟等关键组件的单片集成电路。
的头像 广立微Semitronix 发表于 04-11 14:42 899次阅读
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依托广立微建设的浙江省集成电路EDA技术重点企业研究院正式挂牌

近日,依托广立微建设的浙江省集成电路 EDA 技术重点企业研究院正式挂牌,成为目前浙江EDA领域唯一....
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广立微推出一款T4000 Max 100pin多通道并行参数测试机

在集成电路的工艺开发、产品导入和量产过程中,电性测试设备扮演着重要角色。通过提高测试设备速度,可加快....
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DATAEXP助力坤锐电子解锁RFID芯片良率数据价值

RFID芯片作为一种小型电子标签,在物联网环境中无处不在,广泛应用资产管理、工业制造、物流运输、智慧....
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广立微YMS系统荣获2023年度卓胜微最佳贡献奖

近日广立微DATAEXP-YMS半导体全流程数据管理分析系统获评卓胜微2023年度最佳贡献奖。
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广立微携手战略伙伴为RISC-V IP提升DFT可测试性设计

近日,杭州广立微电子股份有限公司(以下简称“广立微”)携手芯来智融半导体科技(上海)有限公司(以下简....
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广立微推出晶圆级可靠性测试设备

近日,杭州广立微电子股份有限公司正式推出了晶圆级可靠性(Wafer Level Reliabilit....
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广立微发布业界领先的可测性设计自动化和良率诊断解决方案

解决痛点 随着集成电路工艺越渐复杂,芯片设计规模越来越大,在生产过程中产生缺陷和出现良率问题的概率也....
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广立微首款EDA工具满足芯片设计公司和晶圆制造厂的需求

2023年11月10-11日,广立微亮相中国集成电路设计业2023年会暨广州集成电路产业创新发展高峰....
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如何实现CMP步骤的仿真?广立微重磅发布CMPEXP建模工具

近日,为填补国内集成电路市场上产业化CMP建模工具的空白,满足芯片设计公司和晶圆制造厂的需求,广立微....
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广立微即将携全线产品精彩亮相首届IDAS设计自动化产业峰会

     成品率(又称良率,即一片晶圆上合格芯片与所有芯片的比例)对于集成电路企业来说,是直接影响成....
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广立微推出新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000

近日,杭州广立微电子股份有限公司正式推出了新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000。该系列产品....
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广立微亮相IC WORLD,展示成品率提升解决方案

12月28日北京微电子国际研讨会暨IC WORLD大会在北京召开,本次大会以“蓄势起航 焕然一芯”主....
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广立微亮相中国集成电路设计业2022年会

中国集成电路设计业2022年会暨厦门集成电路产业创新发展高峰论坛(ICCAD 2022)在厦门国际会....
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广立微连续2年荣膺“中国芯”优秀支撑服务企业

广立微制造类EDA软件及测试芯片方案应用于半导体制造环节的工艺开发优化和成品率提升,已在多个工艺节点....
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广立微荣获国家级专精特新“小巨人”企业称号

近日,在工业和信息化部认定的第四批专精特新“小巨人”企业名单中,杭州广立微电子股份有限公司榜上有名,....
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