半导体测试
电子发烧友网半导体测试内容涉及半导体测试设备、半导体测试技术、半导体封装测试、半导体测试仪器以及半导体分装测试，专为半导体测试工程师提供技术知识的优秀平台。
如何用示波器正确测量电源纹波
电源纹波测试在电源质量检测中是很重要的一项参数。由于直流稳压电源一般是由交流电源经整流、滤波、稳压等环节而形成的，这就不可避免地在直流电压中多少带有一些交流分量，这种叠加...
2016-04-07 76494
教你如何测量芯片数字模拟噪声
文将介绍一种利用PrimeTime-SI来生成由数字信号在模拟网络上引起的串扰上限的技术。如果此技术揭露出潜在的问题，则会通过HSPICE进行进一步分析。##文将介绍一种利用PrimeTime-SI来生成由数字信...
2015-09-18 6062
IFA2015各大厂商智能手机现场评测汇总
华为在柏林IFA消费电子展上举行了新品发布会，其发布了包括Mate S、华为G8（国内叫G7 Plus）、华为手环等新产品。##从定位低到高分别有Z5 Compact、Z5与Z5尊享版（海外称为Z5 Premium），而过往的...
2015-09-09 3341
大联大诠鼎集团力推展讯3G、4G解决方案
医疗保健、运动健身、游戏乃至时尚等多个行业展示了下一代概念，这些概念或许会转变为“真正”的产品。这一市场预计会在未来几年中迎来爆炸式增长，潜在价值达 500 亿美元。...
2015-06-16 692
Fairchild大幅降低IGBT损耗，助力工业和汽车应用中效率的提升
Fairchild将在PCIM Asia上介绍如何通过打破硅“理论上”的限制 来将IGBT 开关损耗降低30%...
2015-06-15 1142
引领PXI技术创新 NI第十二届“中国PXI技术和应用论坛”在京举行
2015年5月26日—由美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）主办的第十二届“中国PXI技术和应用论坛” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC）北京站会议圆满闭幕。...
2015-06-03 1073
克服多重技术障碍 成就“指尖”上的FTIR光谱仪
FTIR光谱仪（傅里叶转换红外光谱）是利用红外光谱经傅里叶转换来分析杂质浓度的光谱分析仪器，可用于气体、液体的分析等。...
2015-05-22 2771
AMETEK Sorensen针对激光二极管测试的解决方案
在切割、焊接、通信等行业中，半导体激光二极管被越来越多地广泛应用，逐步替代了传统的激光器，因为激光二极管通常具有效率高、体积小、寿命长等优点。##更多的测试数据。...
2014-07-31 1955
IP丰富资源相挺 新思科技全面提升芯片测试速度
近半年来，由于晶圆代工制程的竞争愈演愈烈，也使得上游的EDA（电子设计自动化）与IP（硅智财）业者，必须与晶圆代工业者有更为深入的合作，就各自的专长彼此互补，以形成完整的生态体...
2013-09-27 1292
扫频测量分享：如何进行射频陶瓷贴片电容的测试？
目前广泛应用于各种射频电路中的贴片电容因其尺寸和电容量均较小，没有比较合适的射频段测试仪器。我们应用微波网络理论分析后，自行设计共面波导作为测试夹具，利用射频矢量...
2012-12-27 2204
典型高亮度LED生产环节全方位测试方案
高亮发光二极管（High brightness light emitting diodes，HBLED）综合具备了高输出、高效率和长寿命等优势。制造商们正在开发可以实现光通量更高、寿命更长、色彩更丰富而且单位功率发光度...
2012-12-21 1136
采用TI能耗测量IC简化辅助计量
本文将专门讨论其在辅助计量中的应用。在本文中，辅助计量指的是非公用事业型的电能计量应用，例如：智能插头、电器电度表和服务器功率表。...
2012-10-18 1981
chroma6650 带载短路，无输出的处理方法
chroma6650电子负载测试时出现带载短路，产品无电压输出而不能区分是否是负载出现故障时，可以通过以下几点去辩别！...
2012-09-24 1884
传感器测量方法比较
系统检测过程中，需要运用到各种各样的传感器，传感器的测量方法以及性能是检测任务是否能够顺利完成的关键性因素。在实际操作过程中，需针对不同的检测目的和具体情况进行分...
2012-08-14 1372
电阻测量的多种方法
欧姆表测电阻 1. 方法：把欧姆表选择好倍率挡位并调零后，将红黑表笔直接接在待测电阻的两端，其表盘上的指示读数即为测电阻值 （ 如图 1 所示 ） 。 2. 使用注意事项： （1） 使用...
2012-08-13 9805
晶体管的检测经验的分享
（一）晶体管材料与极性的判别 1.从晶体管的型号命名上识别其材料与极性 国产晶体管型号命名的第二部分用英文字母AD表示晶体管的材料和极性。其中，A代表锗材料PNP型管，B代表锗...
2012-07-23 1273
超越CMOS量测技术在持续发展
目前纳米器件被认为有可能替代常规半导体，其主要问题是它的接触问题。研究的材料和结构显然超出了CMOS范围，如果要继续满足对器件性能不断提高的要求，量测技术允许工程师观察...
2012-04-27 675
实用的集成芯片测试仪方案
我们采用AT89C52单片机设计了集成芯片测试系统。该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL、CMOS系列芯片及一些常用按键开关的功能检测，同时通过RS232串行口与PC机相连，可以在...
2012-04-27 1787
骨架提取在IC晶片缺陷机器视觉识别中的研究
1 引言 本文在光学显微系统和图像采集系统下获取了有图形硅片经过相关处理后图像[6]，提出了一种基于提取骨架特征的IC晶片冗余物和丢失物缺陷短路电路失效形式识别方法，并通过...
2012-04-26 1108
利用多晶X射线衍射实现半导体结构在线测量
半导体制造中的大部分材料是多晶材料，比如互连线和接触孔。XRD能够将多晶材料的一系列特性量化。这其中最重要的特性包括多晶相(镍单硅化物，镍二硅化物)，平均晶粒大小，晶体...
2012-04-26 2034
大容量存储器集成电路测试
大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试...
2012-04-26 1917
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