--- 产品参数 ---
- 型号 SAK-TC264D-40F200N BC
- 品牌 INFINEON
- 封装 LQFP144
- 产地 台湾
- 年份 22+
--- 数据手册 ---
--- 产品详情 ---
SAK-TC264D-40F200N BC,英飞凌汽车MCU,32位单片机
SAK-TC264D-40F200N BC,英飞凌汽车MCU,32位单片机
•具有两个CPU核的高性能微控制器
•一个32位超级标量TriCore CPU(TC1.6P),具有以下功能:
–卓越的实时性能
–强大的比特处理能力
–完全集成的DSP功能
–乘法累加单元能够维持每个周期2次MAC操作
–在全温度范围内,工作频率高达200 MHz
–高达120 KB的数据暂存RAM(DSPR)
–高达32 KB的指令暂存RAM(PSPR)
–16 KB指令缓存(ICACHE)
–8 KB数据缓存(DCACHE)
•功率高效标量TriCore CPU(TC1.6E),具有以下功能:
–二进制代码与TC1.6P兼容
–在全温度范围内,工作频率高达200 MHz
–高达72 KB的数据暂存RAM(DSPR)
–高达16 KB的指令暂存RAM(PSPR)
–8 KB指令缓存(ICACHE)
–0.125KB数据读取缓冲区(DRB)
•TC1.6P的锁定阶梯式阴影芯
•多个片上存储器
–所有嵌入式NVM和SRAM都受到ECC保护
–高达2.5 Mbyte程序闪存(PFLASH)
–高达96 KB的数据闪存(DFLASH)可用于EEPROM仿真
–0 KB内存(LMU)
–BootROM(BROM)
•具有安全数据传输的48通道DMA控制器
•复杂的中断系统(ECC保护)
•高性能片上总线结构
–64位交叉条互连(SRI),在总线主控器、CPU和存储器之间提供快速并行访问
–用于片上外围设备和功能单元的32位系统外围总线(SPB)
–一条总线桥(SFI桥)
•安全管理单元(SMU)处理安全监视器警报
•具有ECC、内存初始化和MBIST功能(MTU)的内存测试单元
•用于检查数字I/O的硬件I/O监视器(IOM)
•多功能片上外围设备
–四个异步/同步串行通道(ASCLIN),支持硬件LIN(V1.3、V2.0、V2.1
和J2602)高达50兆波特
–四个排队SPI接口信道(QSPI),主控和从控能力高达50 Mbit/s
–高速串行链路(HSSL),用于高达320Mbit/s的串行处理器间通信
–两个串行Micro Second总线接口(MSC),用于将串行端口扩展到外部电源设备
–一个MultiCAN+模块,具有5个CAN节点和256个可自由分配的消息对象,用于高效数据
通过FIFO缓冲和网关数据传输进行处理
–6个用于连接到传感器的单边缘Nibble传输(SENT)通道
–一个FlexRayTM模块,带2个通道(E-Ray),支持V2.1
–一个通用定时器模块(GTM),提供一组强大的数字信号滤波和定时器功能
实现自主和复杂的输入/输出管理
–一个捕获/比较6模块(两个内核CCU60和CCU61)
–一个通用12定时器单元(GPT120)
–符合V1.3(PSI5)的三通道外围传感器接口
–具有串行PHY(PSI5-S)的外围传感器接口
–符合V2.1的集成电路间总线接口(I2C)
–IEEE802.3以太网MAC,带RMII和MII接口(ETH)
•8位备用控制器(TC2x_SCR)
–两个8位计时器
–一个16位计时器
–计时器2捕获比较单元
–实时时钟
–通用异步接收机/发射机
–高速同步串行接口
–唤醒CAN过滤器
•通用逐次逼近ADC(VADC)
–4个独立ADC内核的集群
–输入电压范围从0 V到5.5V(ADC电源)
•Delta Sigma ADC(DSADC)
–三/四通道
•数字可编程I/O端口
•对OCDS Level 1(CPU、DMA、片上总线)的片上调试支持
•专用仿真设备芯片可用(ED)
–多核调试、实时跟踪和校准
–某些变体上的Aurora千兆跟踪端口(AGBT)(见下文)
–四/五线JTAG(IEEE 1149.1)或DAP(设备访问端口)接口
•电源管理系统和片上稳压器
•带系统PLL和Flexray PLL的时钟生成单元
•嵌入式电压调节器
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