--- 产品参数 ---
- 注释 更多详细产品信息,请联系我们获取
--- 产品详情 ---
SJ5730系列中图仪器3D轮廓测量仪是测量各种机械零件素线形状和截面轮廓形状的精密设备,超高精度衍射光学测量系统,具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,分辨率高达0.1nm,系统残差小于2nm,是一款集成表面粗糙度和轮廓测量的高精度测量仪器,能一次测量同时评定轮廓和粗糙度参数。该仪器工作台采用高精度的横向气浮道轨和滚动垂直道轨,移动精度高、稳定性好、寿命长;测量效率高、操作简单、适用于车间检测站或计量室使用。
技术参数
型号 | SJ5730-100 | ||
轮廓参数 |
测量范围 | X轴 | 0~100mm |
立柱轴 | 0~300mm | ||
Z轴 | ±6mm(标准测杆)(±12mm:两倍标准测杆) | ||
分辨率 | X轴:10nm,Z轴:1nm、0.1nm | ||
测量精度 | 角度精度 | ≤0.5’ *备注:精度验证以测量多面棱体角度为准 | |
Z轴轮廓精度 | ≤±(0.5+0.03Z)μm(H,mm) | ||
标准圆弧Pt精度 | Pt≤0.4μm *备注:25mm以下标准球Pt测试 | ||
标准球测量误差 | ≤±1μm(R≤10mm),≤±(0.17+R/12)μm(10 *备注:精度验证以测量标准球弧度超过90度为准 | ||
移动速度 | X轴 | 0~20mm/s | |
立柱轴 | 0~20mm/s | ||
扫描速度(扫描轴) | 0.05~5mm/s | ||
直线度(扫描轴) | ≤(0.05+1.5L/1000)μm *备注:≤0.2μm/100mm | ||
测量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(电子档位可调) | ||
粗糙度参数 | 适用Ra测量范围 | Ra0.012μm~Ra12.5μm(可选更大范围) | |
示值误差 | Ra: ≤±(3nm+2.0%A)(A:测量Ra标称值) | ||
重复性(1δ) | 1δ≤1nm *备注:0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块测试 | ||
残值噪声 | Rq≤2nm *备注:1纳米级粗糙度样块、平晶测试 | ||
粗糙度测量参数 | R粗糙度: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ; Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr; 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo; P轮廓参数: Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax; W波纹度轮廓参数: Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc; Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte; 符合标准: GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982, ISO 1302:2002; | ||
滤波器 | 高斯滤波器、2RC滤波器,相位修正滤波器 | ||
滤波长度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可选 | ||
滤波长度 | λc×3、4、5、6、7、8可选 | ||
仪器尺寸(长×宽×高) | 600×350×850(mm) | ||
仪器总重量 | 约95Kg |
产品功能
1.SJ5730系列中图仪器3D轮廓测量仪一次测量可同时评定粗糙度及轮廓参数,分析评定R参数、P参数、W参数等微观粗糙度参数及倒角、R角、直线度、位置尺寸、角度的宏观轮廓参数;
2.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数评定;
3.圆球类零件轮廓及粗糙度参数测量评定;
4.表面轮廓评定:评定任何点/线间距、两线夹角、圆弧半径、直径等几何量尺寸参量,并可对轮廓进行直线度、圆度、轮廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和测量的操作简洁高效;
5.尺寸标注:半径、两圆中心距离、X/Z尺寸、斜边、两线夹角、直线相交、直线与圆弧相交、圆弧与圆弧相交、尺寸标注线大小修改、线偏移、局部轮廓放大和调平等;
6.测量记录采用集中式数据库管理,可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检测员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理测量记录;
7.输出多种格式报表(.doc,.docx,.xlsx,.pdf),并支持自定义报表,定制测量记录报表,可批量打印记录表,具有数据备份和还原数据库功能;
8.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点;
9.成熟简单的标定,仪器自带高精度组合标定台,可对仪器的精度和测针磨损进行精确补偿;
10.可进行DXF(CAD)格式图纸导入,进行理论图纸与测量结果比对分析,可提供直观图形对比;
11.可导出坐标点数据(.TXT)等格式,可读取到Excel或者CAD软件内进行数据分析及标准轮廓比对;
12.可对多次测量的轮廓曲线匹配后进行分析测量重复性。
SJ5730系列中图仪器3D轮廓测量仪具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围,分辨率达到0.1nm,因此非常适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量,同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能,能够满足各种高精密轮廓粗糙度加工行业的测量需求。
该仪器同时可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。该仪器可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数、微观轮廓度参数的测量。同时仪器还可对各种精密零件轮廓度、波纹度进行测量,对形状参数进行分析。是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、光学镜片)领域精细粗糙度测量的利器。
为你推荐
-
中图国产光学轮廓仪2024-12-24 18:12
产品型号:SuperViewW1 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
中图国产机床测头2024-12-24 18:09
产品型号:PO40 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
共聚焦超景深三维显微镜2024-12-24 18:08
产品型号:VT6000系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
台式材料分析扫描电镜2024-12-24 17:57
产品型号:CEM3000系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
台式粗糙度轮廓仪一体机2024-12-24 14:17
产品型号:SJ5800系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
激光切割机精度激光干涉校准仪2024-12-24 14:15
产品型号:SJ6000系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
连铸机安装精度激光跟踪测量仪2024-12-24 14:13
产品型号:GTS系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
涂层薄膜厚度台阶仪2024-12-24 14:10
产品型号:NS系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
大景深台式扫描电镜2024-12-24 14:09
产品型号:CEM3000系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。 -
光栅测长仪品牌2024-12-23 16:01
产品型号:SJ5100-Prec系列 注释:如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
-
冶金工业案例:GTS激光跟踪仪在连铸机安装中的应用2024-12-20 15:03
-
尺寸测量全自动检测设备及其在线应用探索2024-12-13 16:59
-
自动化生产中的精密几何量测量:关键仪器与应用2024-12-13 16:43
-
白光干涉仪测量原理及干涉测量技术的应用2024-12-13 16:42
-
精密几何测量仪三剑客:闪测仪、影像仪与三坐标2024-12-13 16:40
-
中图仪器获得国际大厂布雷博认可2024-12-13 14:54
-
激光跟踪仪测量工具简称及全面解析2024-12-11 15:55
-
铸光为尺—PLR3000系列光纤激光干涉尺新品发布2024-12-03 01:02
-
轴承行业测量解决方案2024-11-29 14:12
-
触针式轮廓仪在轴承滚子测量中的应用2024-11-20 01:02
-
方案上新|轴承行业测量解决方案免费下载2024-11-28 16:42
-
大尺寸部件安装精度测量:GTS激光跟踪仪的解决方案2024-11-20 14:52
-
轮廓测长|中图仪器SJ51系列测长机实现高精度二维长度测量2024-01-25 15:37
-
显微测量|中图仪器显微测量仪0.1nm分辨率精准捕捉三维形貌2024-01-25 15:34
-
VX9000系列光学扫描成像测量机,满足PCB行业多样化尺寸测量需求2023-12-01 09:29
-
激光干涉仪检测机床的方法(以线性检测为例)2023-10-27 15:21
-
白光干涉仪(光学轮廓仪):揭秘测量坑的形貌的利器!2023-10-26 10:47
-
纳米级测量仪器:窥探微观世界的利器2023-10-11 13:49
-
微纳共聚焦显微镜:检测摩擦学研究的重难点2023-09-22 09:13
-
先进封装厂关于Bump尺寸的管控2023-09-06 14:26