艾思荔设备生产的电子电器高低温试验箱其冷冻及风路循环系统的制冷机采用法国“泰康”全封闭压缩机，冷冻系统采用一元或二元式低温回路系统设计。采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计，风压．风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。升温、降温、系统完全独立可提高 效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。
电子电器高低温试验箱规格：
1.內尺寸：50×60×55㎝(W*D*H)
2.外尺寸：115×158×184㎝(W*D*H)
3.温度范围：-70℃～+150℃(气冷式)
4.湿度范围：10%～98%RH
5.降温速率：20℃～-70℃/85min(空载下)
6.升温速率：20℃～+150℃/45min(空载下)
7.发热负载：250W.(40℃,90%RH)
8.温度稳定度：±0.2℃
9.湿度稳定度：±2%
电子电器高低温试验箱结构特点：
1．箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。
2．外箱采用SUS304＃雾面线条处理不锈钢板，内箱采用进口不锈钢SUS＃304镜面钢板。
3．保温材质：高密度PU发泡胶+玻璃纤维棉。
4．运风系统:采用加长轴电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮，以达强度对流垂直扩散循环。
5．观察窗采用高清淅度附发热导电膜多层中空钢化玻璃。
6．箱体左侧配Ø50mm测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。
7．机器底部采用可固定式PU活动轮及平水脚。
电子电器高低温试验箱满足标准:
1．GB/T2423.1-2001低温试验方法；
2．GB/T2423.2-2001高温试验方法；
3．GB/T2423.22-1989温度变化试验N；
4．GJB150.5-86温度冲击试验；
5．GJB360.7-87温度冲击试验；
6．GJB367.2-87405温度冲击试验。
7．SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8．SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9．满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10．GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11．GB/T2423.22-2002温度变化
12．QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则,
13．EIA364-32热冲击（温度循环）
电子电器高低温试验箱应用范围：
电子电器高低温试验箱又名高低温老化箱、高低温湿热试验室、大型高低温湿热试验箱、两箱移动低温交变湿热试验箱，用于电子电器零组件、自动化零部件通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。
