--- 产品参数 ---
- 材质 不锈钢
- 内箱尺寸 500*600*500MM
- 温度范围 -20~+150度
- 湿度范围 20~98%R.H
- 电源 220V
--- 产品详情 ---
平板电脑高低温湿热试验箱 箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。外箱采用SUS304#雾面线条处理不锈钢板,内箱采用进口不锈钢SUS#304镜面钢板。外形设计美观,各零部件安装位置合理,静电喷涂颜色能满足客户实验室整体配套要求。
平板电脑高低温湿热试验箱规格:
型 号 工作室尺寸(mm) 外箱尺寸(mm)
HL-80 400*500*400 950*1650*950
HL-150 500*600*500 1050*1750*1050
HL-225 600*750*500 1200*1900*1150
HL-408 600*800*850 1200*1950*1350
HL-800 1000*1000*800 1600*2000*1450
HL-1000 1000*1000*1000 1600*2100*1450
温度范围:A型:25℃~150℃;B型:0℃~150℃;C型:-20℃~150℃;D型:-40℃~150℃;E型:-60℃~150℃;F型:-70℃~150℃
湿度范围:20%~98%RH
降温速率:20℃~-70℃/85min(空载下)
升温速率:20℃~+150℃/45min(空载下)
发热负载:250W.(40℃,90%RH)
温度稳定度:±0.2℃
湿度稳定度:±2%
平板电脑高低温湿热试验箱满足标准:
1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;
2、GB/T2423.2-2001高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;
7、GJB150.5-86温度冲击试验;
8、GJB360.7-87温度冲击试验;
9、GJB367.2-87405温度冲击试验。
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA364-32热冲击(温度循环)
平板电脑高低温湿热试验箱应用范围:
平板电脑高低温湿热试验箱又名高低温湿热试验室、大型高低温湿热试验箱、两箱移动平板电脑高低温湿热试验箱,用于电子电器零组件、自动化零部件通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.
为了仿真不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。
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