半导体器件高低温试验箱具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为准确稳定，控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示，具有100组程式、每组100段、每段可循环999步骤的容量，每段时间设定大值为99小时59分，资料及试验条件输入后，控制器具有荧屏锁定功能，避免人为触摸而停机，具有RS-232或RS-485通讯界面，可在电脑上设计程式，监视试验过程并执行自动开关机、数据等功能控制器。
半导体器件高低温试验箱技术指标：
型 号 工作室尺寸（mm） 外箱尺寸（mm）
HL-80 400*500*400 950*1650*950
HL-150 500*600*500 1050*1750*1050
HL-225 600*750*500 1200*1900*1150
HL-408 600*800*850 1200*1950*1350
HL-800 1000*1000*800 1600*2000*1450
HL-1000 1000*1000*1000 1600*2100*1450
1、温度范围:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃
2、RT--------->150℃约3度/分钟
3、RT--------->-20℃约1度/分钟
4、显示精度：温度：0、1℃
5、偏差：温度：±2、0℃
6、均匀度：温度：±2、0℃
7、波动度：温度：±0、5℃
半导体器件高低温试验箱箱体结构：
1．箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。
2．箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。
3．大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。
4．配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用
半导体器件高低温试验箱控制系统：
1．温度范围：0℃-150℃ -20℃-150℃ -40℃-150℃ -60℃-150℃ -70℃-150℃也可按客户需要定制非标试验箱
2．温湿度显示控制仪表采用（进口）荧幕操作简单，无须按键输入，精度：0.1℃(显示范围)，解析度：±0.1℃；
半导体器件高低温试验箱系统：
1．采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。
2．风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。
3．升温、降温、系统完全独立可提高 效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。
4．整体设备超温；整体设备欠相/逆相；整体设备过载；制冷机组超压；整体设备定时；
5．其它还有漏电、运行指示，故障报警后自动停机等保护。
6．具有荧屏自动屏保功能，在运转或设定中，如发生错误时，会提供警示迅号。
7．制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。
8．干燥过滤器、冷媒流量视窗、修理阀、油分离器、电磁阀、贮液筒均采用进口原装件
9．冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。
半导体器件高低温试验箱用途：
半导体器件高低温试验箱壹叁伍叁捌肆陆玖零柒陆又名高低温老化试验箱适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在复杂的高、低温湿热环境下贮存、运输、使用时复杂的高低温湿热变化适应性试验。
