采用不同的样品(见下)进行以下两种试验:群脉冲试验(见表1)和浪涌试验(见表2)。
试验条件为如下：
A. 输入电压:0V 或标称值。负载:40W 灯泡;
B. 《2kV 时，Burst 测试频率:5kHz;》2kV 时，Burst 测试频率:2.5kHz。
C. 样品: N0. 1、N0.2 和N0.3 的结构不相同，PCB相同;N0.4 和N0.5 的光耦不相同，其它相同。( 见表1 中的“产品/元件型号”)
D .测试结果见表1 。
a. 表中“1 ”表示通过，“0 ”表示不通过。判定标准：“1 ”: 灯泡不闪;“0 ”:：灯泡闪烁。
b.表中L：火线;N：零线。
试验不难看出：
(1)对比A 公司产品两个继电器，其电路结构、元器件参数完全相同，仅仅前者多了一个散热片，但其burst测试只能达到2kV，而第2 个的burst 测试可以达到4kV。由此可知，产品内部结构的变化会影响到E M C 性能;
(2)RC 会很大程度的影响固体继电器的EMC 性能;不加R C 电路的结构，E M C 性能最差，见B 公司产品;
(3) 采用不同的光耦，其EMC 性能会有很大的变化，见N0.4 与N0.5 的试验结果;
(4) 不同的光耦和不同的可控硅组合对EMC 性能也有较大影响;
(5) 选择适当的RC 组合，也可提高Burst 和Surge抗扰能力。当R C 中C 值一定时，固态继电器对B u r s t的抗扰能力与R 值成反相关关系，但当R 小到一定的值时，这种关系就不再明显;
(6) 增加RV 压敏电阻可大大增强Surge 的抗扰能力。
4 测试方法及注意事项
为了正确获得试验数据必须按要求正确设计测试回路，和正确的连线。然后设定方法和步骤，最后按判定标准获取数据。
4.1 测试电路
图4 所示为测试电路。对SSR 来说，有信号源(稳压电源)、小于1 米的连线、负载及有关仪器;图5 为电源信号叠加干扰信号的波形。
4.2 试验标准及要求及判定要求
表3 为EMC 的抗干扰标准：EN61000-4-4、EN61000-4-5 和EN61000-4-2 的试验标准及要求。对SSR 来说，其工作状态要求样品处于正常关断和接通状态加入干扰源，观察样品是否失效。