描述
AD585是一款完整的单芯片采样保持电路，含有一个高性能运算放大器，与一个泄漏极低的模拟开关和一个FET输入积分放大器相串联。同时提供一个内部保持电容和匹配应用电阻，具备高精度和应用灵活性。
AD585性能出色，是高速10位和12位数据采集系统的理想选择，在这类应用中，快速的采集时间、低采样保持失调和低下降至关重要。利用片内保持电容，AD585可以在最多3 µs的时间内采集精度达±0.01%的信号，并以最大3 mV的采样保持失调和不到1 mV/ms的下降速率保持该信号。如果要求更低的下降速率，则可以添加一个较大的外部保持电容。
AD585所用高速模拟开关的孔径抖动为0.5 ns，能以12位精度对频率最高为78 kHz的满量程（20 V峰峰值）信号进行采样。
AD585可以支持任何用户定义的反馈网络，为采样模式提供任何所需增益。片内精密薄膜电阻可用来提供+1、-1或+2的增益。保持模式下的输出阻抗很低，足以维持精确的输出信号，即使在驱动由逐次逼近ADC带来的动态负载时也无问题。但输出采用了意外短路保护机制。
保持命令的控制信号可以为高电平有效或低电平有效。只要提供合适的基准电平，差分保持信号即可兼容所有逻辑系列。提供一个片内TTL基准电平以确保TTL兼容性。
特性
• 采集时间：3.0µs（至±0.01%，最大值）
• 低下降速率：1.0mV/ms（最大值）
• 采样保持失调步长：3mV（最大值）
• 孔径抖动：0.5ns（典型值）
• 内部保持电容
• 内部应用电阻
• 工作电压：±12V或±15
