我司自主研发的全自动COS综合性能测试设备：是用于激光芯片贴片后，光性能的检测设备。传统检测方式为人工上下料，仪器检测数据，人工筛选和记录。本设备将全面实现自动化，大大提高芯片检出效率，减少人为操作带来的误判或芯片操作，更省人省时。
技术参数：
| 型号 | HX-COST150 |
| 供电 | 单相交流/220V(50Hz)，30A |
| 整机功率/重量 | ≤8KW / 1200kg |
| 气源 | 压缩空气0.5~0.8Mpa，真空度>-80Kpa，直径10mmTube，(选项:真空泵) |
| 水源 | 纯水，4L/Min(管直径:机台12mm，冷却8mm) |
| 设备尺寸 | 1400 x 1350 x 2100(mm) |
| 测试工位 | 双通道，4工位 |
| 测试最大电流 | 100A，步长0.1A，分辨率1mA，设定精度0.1%+50mA |
| 激光波长范围 | 300~1100nm |
| 功率测试 | 功率重复测试精度<0.5%，功率测试范围为0-80W，分辨率0.01W |
| 波长检测 | 测量范围为300-1100nm，波长测量精度为1nm，光学分辨率≤0.25nm。 |
| 偏振度 | 偏振度差值<土0.5%; |
| 发散角 | X轴方向测量范围-50°至50°，Y轴方向-60°至60°，精度土0.5 |
| 测试效率 | 280PCS/小时 |
