普密斯光谱对焦测厚系统,双光谱测量精度高,稳定量测各类材质

传感器光谱传感器在线测厚测量系统

型号： SFS系列

品牌： POMEAS(普密斯)

--- 产品参数 ---

传感测量头1 SFS-D8022
单边工作距离1 22mm
传感测量头2 SFS-D8055
单边工作距离2 55mm
对射测厚量程1 1mm
对射测厚量程2 1.5mm
精度1 1um
精度2 5um
采样频率 200~2000 Point/sec
工作温度 5℃~40℃
电源/功耗 24V DC2A

--- 数据手册 ---

光谱对焦测厚系统.pdf

--- 产品详情 ---

产品简介

——

普密斯光谱对焦测厚系统，双光谱相比单向测量精度更高，稳定量测各类材质，测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化测量应用

产品优势

——

1、稳定量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等；

2、适用于各种工件形貌（包含深孔/斜面/弧面）之特征尺寸量测，例如高度/段差/厚度/平面度/轮廓度等；

3、高温高压等严苛操作条件下亦能正常使用；

4、测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化测量应用。

应用领域

——

◆ 手机，平板，电脑等金属机壳机加制造业
◆ PCB板，连接器，IC芯片等电子业
◆ 面板，玻璃，钢化膜等行业
◆ 半导体晶圆，绿能，光伏等行业

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