产品简介
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普密斯3D白光干涉轮廓仪Meter View 系列 WLI-1000能够以优于纳米级的分辨率实现“面”测量，非接触式测量样品表面形貌，不损伤产品本身。
广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等等领域，用于表面形貌纹理，微观结构分析。
产品特点
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1. 表征微观形貌的粗糙度测量;
2. 台阶高、角度等轮廓尺寸测量;
3. 自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;
4. 校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等数据处理功能;
5. 对比分析和多文件分析等辅助分析功能。
应用领域
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对各种产品、部件和材料表⾯的平⾯度、粗糙度、波纹度、⾯形轮廓、表⾯缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶⾼度、弯曲变形情况、加⼯情况等表⾯形貌特征进⾏测量和分析。
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