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摘要: 随着科技的发展,空调日渐普及,但是吊扇依旧受到众多消费者的青睐。英飞凌的永磁同步电机吊扇解决方案由非隔离的15 V、700 mA高压(HV)降压转换器ICE5BR2280BZ和单片集成NPN型电压调节器TLE4284供电,采用IM241系列CIPOSTM Micro IPM作为驱动。XMC系...
摘要 如今,Class D功率放大器在音频系统中被广泛使用。 然而,在放大器启动或关闭时,以及在静音 / 取消静音 切换期间,扬声器中经常会出现爆裂声或点击声。这些 噪音可能会被听到,并使用户感到不适。在音频系统中 静音功率放大器是避免在启动或关闭期间出现爆裂声的 有效方法。此外,音频系统有时播放...
虽然DUVL机器可以通过多重曝光技术将线宽缩小到7-5纳米,但如果要获得更小的线宽,DUVL已经达到了极限。采用EUV作为光源的极紫外光刻(EUVL)成为研究的重点,其波长为13.5纳米。...
在半导体工艺中,“键合”是指将晶圆芯片连接到衬底上。粘接可分为两种类型,即传统方法和先进方法。传统的方法包括晶片连接(或晶片连接)和电线连接,而先进的方法包括IBM在60年代末开发的倒装芯片连接。...
晶圆测试的对象是晶圆,而晶圆由许多芯片组成,测试的目的便是检验这些芯片的特性和品质。为此,晶圆测试需要连接测试机和芯片,并向芯片施加电流和信号。...
PDK 提供了开发平面芯片所需的适当详细程度,将设计工具与制造工艺相结合,以实现可预测的结果。但要让该功能适用于具有异构小芯片的PDK,要复杂很多倍。...
CP(Chip Probing)测试也叫晶圆测试(wafer test),也就是在芯片未封装之前对wafer进行测试,这样就可以把有问题的芯片在封装之前剔除出来,节约封装和FT的成本。...
凸点金属化是为了将半导体中P-N结的性能引出,其中热压倒装芯片连接最合适的凸点材料是金,凸点可以通过传统的电解镀金方法生成,或者采用钉头凸点方法,后者就是引线键合技术中常用的凸点形成工艺。...
WLP 可以有效提高封装集成度,通常采用倒装(FC)互连技术,是芯片尺寸封装 CSP 中空间占用最小的一种。...
WAT需要标注出测试未通过的裸片(die),只需要封装测试通过的die。 FT是测试已经封装好的芯片(chip),不合格品检出。WAT和FT很多项目是重复的,FT多一些功能性测试。WAT需要探针接触测试点(pad)...
在自然界中,获取成本最低的半导体就是硅。而硅料的提取是熔炼砂子。提到这里可能有朋友想到“光伏电池片用的也是硅片”。...
先看一些晶圆的基本信息,和工艺路线。 晶圆主要尺寸有4吋,6吋硅片,目前对8吋,12吋硅片的应用在不断扩大。这些直径分别为100mm、150mm、200mm、300mm。硅片直径的增大可降低单个芯片的制造成本。...
封装的主要生产过程包括:晶圆切割,将晶圆上每一晶粒加以切割分离。粘晶,(Die-Attach)将切割完成的晶粒放置在导线架上。焊线,(WireBond)将晶粒信号接点用金属线连接至导线架上。...
用于定义晶圆表面特性的 TTV、弯曲和翘曲术语通常在描述晶圆表面光洁度的质量时引用。首先定义以下术语以描述晶圆的各种表面。...
目前最先进的黄光微影制程中,使用ArF准分子雷射(λ=193nm)作为光源。nm为nano-meter,代表10的负九次方。...
当等离子体转变到这种状态时,电子密度处于最低水平。一般来说,等离子体密度下降的水平取决于占空比和脉冲频率。通过调整脉冲的占空比,可以将时间平均离子能量分布函数进行调整。...
封装可行性审查应在封装开发初期进行,审查结果需要提交给芯片和产品设计人员做进一步反馈。完成可行性研究后,须向封装制造商下订单,并附上封装、工具、引线框架和基板的设计图纸。...