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SPEA

SPEA成立于1976年，注于于电路板和电路模块检测，为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备，提供标准化产品和定制化服务方案

51 内容数 3.4w 浏览量 9 粉丝

SPEA 4020飞针测试仪 更快速度更高精度

飞针测试仪
型号： 4020

--- 产品参数 ---

  • 飞针数量 4个
  • 测试能力 在线测试、上电测试、短路测试、电源测试等
  • xyz运动技术 线性马达
  • 最小封装尺寸 0.254x0.127mm
  • 测试精度 ±40um
  • 重复性 ±10um
  • 占地面积 4020S2 M（1360x1220mm）约1.66m²

--- 数据手册 ---

4020 S2 - Leaflet - V14 ENG.pdf

--- 产品详情 ---

4020 飞针测试仪概况

4020适用于电路板原型、新产品导入、小批量生产，这款设备采用三轴运动技术采用线性马达，具有超高的测试精度、稳定的测试能力，并且没有治具成本。实时信号采集保障无量测信号衰减或干扰，驱动及量测单元被集成放置在每个飞针头上，拥有卓越的测量速度及性能。

1.快速测试能力源自运动技术突破

优质线性电机可以提供其他运动技术无可比拟的生产率和耐性，这就是为什么所有最先进的产品设备(如:最新抓取与放置)都基于该先进的技术，SPEA的飞针也具备这些特性。

  • XYZ轴高性能线性电机
  • 超高速运动
  • 无磨损免维护
  • 持久的机械稳定性

 

2.精准的微小SMD植针

SPEA 4020 飞针测试设备满足高密度元器件电路板测试，X-Y-Z轴上的线性光学编码器使定位测试更精准。独有的软着陆技术可以令探针轻柔触碰电路板及元器件，避免划伤电路板。

 

  • XYZ axis在XYZ 轴上的高性能线性光学编码器
  • 微型-SMD  (01005) pad  精准接触
  • 灵活轻薄的印制电路可靠的测试,柔性电路板
  • 长久位置量测的稳定性
  • 超高速软着陆技术:无碰触损伤,在PCB及微型-SMD上无压力

 

3.更好的测试精度

探针与量测单元间距离越短量测越精确，根据这个显而易见的电路原理SPEA设计了一台独特的飞针测试机。驱动及量测单元被集成放置在每个飞针头上，拥有卓越的测量速度及性能。

 

  • 超高的量测精度(0.1pF )
  • 信号完整性
  • 无量测信号衰减或干扰
  • 实时信号采集

 

4.七大测试功能

5.多模式双面植针

4020  S2 能合并4个顶部高速飞针,测试头以及配备接触电路板底的额外工具,提高产量以及测试能力。

每一个飞针测试探针能用于在线测试、上电测试、SINK/电源模拟、数字激励/感应、在线烧录、边界扫描、预分频器。

4个顶部探针从上面执行飞针测试，底部可升降平 台可用于针床治具，多个大电流电源、数字输入/输出、高速信号、固定探针、平面支撑。

 

 

 

 

 

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