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SPEA

SPEA成立于1976年,注于于电路板和电路模块检测,为半导体IC和 MEMS传感器设计并制造自动测试设备,提供标准化产品和定制化服务方案

59 内容数 4.7w 浏览量 11 粉丝

SPEA DOT800 多芯混合信号测试设备

型号: DOT800

--- 产品参数 ---

  • 适用测试领域 汽车、照明、PMIC、转换器、MEMS
  • 测试头插槽 16/20
  • 测试通道 64-256

--- 产品详情 ---

DOT800 多芯混合信号测试设备

DOT800  多芯混合信号测试设备

由SPEA出品的DOT800MEMS测试仪具备二台测试机的能力在紧凑测试头上有5000多个通道。系统架构由多达2个不同的独立核心组成。每个核心可以包含8/10个插槽, 总共有16/20个测试头插槽,以容纳强大的仪器套件。每个系统核心都配备了专用的独立CPU, 以非同步的方式执行测试程序, 保证了更高的并行测试效率。


  LPE | 多处理器多功能通道仪  

LPE 是一种高密度的、模块化的仪器, 能够将160至256通道装配在一个单一的仪表插槽中。共有五通道配置可满足不同的技术需求。

 

  配套仪器  

HMX/LMX 100

功率矩阵 1:4

高功率矩阵: 8/16A, 150V

低功率矩阵: 2/4A, 100V

 

LDG 1xx▲(测试头)

任意波形發生器和數字信号

16 通道, 配置:

LF DGZ; 10V; 2MHz BW; 5Msps

HF DGZ; 10V; 20MHz BW; 40Msps

LF AWG ; 5V; 10mA; 10Hz ÷ 90kHz BW

HF AWG; 5V; 10mA; 90kHz ÷ 2.5MHz BW

 

SVM TRIM▲(测试头)

小参数值(如电阻、电容、电感)測量模組

16 通道

电流(PA);电容(FF);

电压(μV)测量

 

  HPE 100  

8组中等功率 电压源浮动 |堆叠 |配套
HPE 100 是一个8通道多仪器单元, 能夠产生和測量4象限中功率信号,其高达±100V, 2A, 配套可高达16A。电源矩阵选项,它可以最小化负載板上的繼電器, 以及系統电源模块。

 

SPEA多核结构:优点

并行测试

并行测试

加快测试程序的开发:多达二名工程师可以在同一系统上同时开发测试程序。

不同的DUT并行测试 

多达二个不同的应用程序可以由一个测试仪以完全异步的方式同时进行测试。

 

不同的IP并行测试

该系统可以异步运行二种不同的测试程序,在同一设备的二个不同的IP上进行。

 


 

 

测试头

 

8-20个插槽

实用:

使用稳压电源 (2x 5V, 4x 15V)

ji集电极开路输出端:76继电器控制

2x TTL适配器标识符(8位)

8x SPI通信端口

 

框架


 

测试机控制器

键盘

显示器

中频电源

射频单元


 

 

电源柜


 

3个框架插槽介绍:

最高高压可到±2500V

最大电流可到 1024A


 

电源柜

8个插槽

6个框架插槽介绍:

最高高压可到±2500V

最大电流可到 1024A

实用:

使用稳压电源 (2x 5V, 4x 15V)

ji集电极开路输出端:76继电器控制

2x TTL适配器标识符(8位)

8x SPI通信端口

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