随着SOC越来越复杂，包含的IP越来越多，单个SOC上实现了CPU, 射频模块，相机模块，DDR控制....
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摩尔学堂 发表于 11-16 09:24
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CMOS 反相器的发展为集成电路提供了基本功能，是技术史上的一个转折点。该逻辑电路突出了 CMOS ....
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摩尔学堂 发表于 11-15 09:47
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量子计算机要充分发挥潜力，需要数百万量子比特，而不是目前的数百量子比特。然而，通往量子计算机规模化的....
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摩尔学堂 发表于 11-14 09:20
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在使用高速模数转换器 (ADC) 进行设计时，需要考虑很多因素，其中 ADC 采样时钟的影响对于....
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摩尔学堂 发表于 11-13 09:49
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在本文中，我们将介绍低压差 (LDO) 稳压器中噪声和电源抑制比 (PSRR) 的影响。让我们简单讨....
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摩尔学堂 发表于 03-15 17:12
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LDO是Low Dropout Regulator的缩写，意思是低压差线性稳压器，LDO是用来做什么....
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摩尔学堂 发表于 03-08 15:48
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本文介绍了设计双边射频放大器以实现最大增益的方法。在单边设计方法中，可以使用单边品质因数（U）来评估....
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摩尔学堂 发表于 12-07 10:21
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本文介绍了在设计单向射频放大器时增益分析的重要性。首先，在低频放大器的分析相对简单，因为不需要考虑信....
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摩尔学堂 发表于 12-05 10:02
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MOSFET的非理想特性对模拟集成电路设计具有重要影响。文章介绍了非理想特性的多个方面，包括电容、体....
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摩尔学堂 发表于 11-16 16:15
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本文介绍了MOSFET的物理实现和操作理论。MOSFET由NMOS和PMOS构成，有截止区、线性区和....
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摩尔学堂 发表于 11-15 09:30
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本文是关于相位噪声建模、仿真和传播在锁相环中的应用的第三部分。文章介绍了相位噪声的理论和测量方法，并....
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摩尔学堂 发表于 10-27 11:42
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本篇文章是关于相位锁定环(PLL)频率合成器的设计和分析，重点讨论了相位噪声和频率噪声的测量、建模和....
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摩尔学堂 发表于 10-26 15:30
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尽管设计和验证很复杂，SERDES 已成为 SoC 模块不可或缺的一部分。随着 SERDES IP ....
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摩尔学堂 发表于 10-23 14:44
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使用正弦直方图测试方法可以确定模拟数字转换器（ADC）的参数，并优于线性斜坡直方图测试方法。
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摩尔学堂 发表于 10-22 15:58
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SerDes（Serialization/Deserialization）是一种在数字通信系统中提供....
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摩尔学堂 发表于 10-20 15:31
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电压模式控制通过将输出电压反馈到误差放大器来控制输出电压，而CMC则通过采样电感电流来控制输出电压。
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摩尔学堂 发表于 10-19 10:58
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抖动是指信号的跳边时刻偏离其理想(ideal)或者预定(expected)时刻的现象。噪声，非理想的....
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摩尔学堂 发表于 10-18 15:52
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直方图测试是确定模数转换器（ADC）静态参数的最流行方法之一。
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摩尔学堂 发表于 10-17 15:58
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接收端均衡器的目标和发送均衡器是一致的。对于低速(<5Gbps)SerDes，通常采用连续时间域，线性均衡器实现如尖峰放大器(peaking amplifier), 均衡器对高频分量的增益大于对低频分量的增益。图2.8为一个线性均衡器的频域特性。通常工厂会对均衡特性封装为数种级别，可以动态设置，以适应不同的信道特性，如High/Med/Low等。
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摩尔学堂 发表于 10-16 16:18
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FPGA发展到今天，SerDes（Serializer-Deserializer）基本上是器件的标配....
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摩尔学堂 发表于 10-16 14:50
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IBM 研究团队创建的设计可以在每个芯片上编码 3500 万个相变存储设备；换句话说，模型具有多达 ....
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摩尔学堂 发表于 08-28 15:38
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伺服环路测试可以确定模数转换器 (ADC) 传递函数。本文将介绍伺服环路 ADC 测试的基础知识，并....
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摩尔学堂 发表于 08-21 15:33
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GPT-4已经会自己设计芯片了！芯片设计行业的一个老大难问题HDL，已经被GPT-4顺利解决。并....
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摩尔学堂 发表于 06-20 11:51
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继续深入研究一个可以产生负电源电压的简单SPICE电路，我们将考虑振荡器频率对系统性能参数的影响。 ....
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摩尔学堂 发表于 06-19 09:32
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继续深入研究一个可以产生负电源电压的简单SPICE电路，我们将考虑振荡器频率对系统性能参数的影响。
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摩尔学堂 发表于 06-19 09:31
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了解如何使用 Y 因子方法测量噪声系数 (NF)。我们将深入研究如何使用它来查找噪声因子、如何校准噪....
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摩尔学堂 发表于 06-12 10:07
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NF 指标使我们能够表征 RF 组件和系统的噪声性能。
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摩尔学堂 发表于 06-12 10:07
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芯片设计过程是一项复杂的多步骤工作，涉及从初始系统规格到制造的各个阶段。
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摩尔学堂 发表于 06-05 10:03
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本文研究了奈奎斯特-香农采样定理的一个重要方面，并解释了它与模数转换中抗混叠滤波器需求的联系。
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摩尔学堂 发表于 05-19 15:17
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在上一篇介绍奈奎斯特-香农定理的文章中，我们看到当以每个周期不提供至少两个样本的频率对波形进行采样时....
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摩尔学堂 发表于 05-18 11:02
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工商网监